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產(chǎn)品名稱: 晶體管開關參數(shù)測試儀 型號：NIB-2961A
產(chǎn)品型號: NIB-2961A
產(chǎn)品展商: 其它
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晶體管開關參數(shù)測試儀 型號：NIB-2961A

貨號：ZH9827

產(chǎn)品簡介: 測試中小功率半導體三管開關參數(shù)，功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶體管。 Td延遲時間 tr被測晶體管上升時間 ton晶體管開啟時間 ts存貯時間 tf被測晶體管下降時間 toff晶體管下降時間 主要參數(shù) 測量范圍：由5nS至500 nS 測量條件 Ib1=Ib2=1mA,  Ic=10 mA  2) Ib1=Ib2=3mA，Ic=300 mA  3) Ib1=Ib2=10mA，Ic=100 mA  4) Ib1=Ib2=30mA，Ic=300 mA  5) Ib1=Ib2=50mA，Ic=500 mA 脈沖寬度：0.7-2.5uS ±脈沖**：≤2nS ±脈沖幅度：±10V±0.5V 指標 脈沖信號源：頻率20K 取樣示波器：帶寬: 1000MHz 掃   速：20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm 200nS/cm CRT顯示輸入/輸出波形 計算機顯示測量參數(shù)及測量結(jié)果。 晶體管開關參數(shù)測試儀 型號：NIB-2961A

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